光致發光量子效率測量系統

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所屬分類：光致發光量子效率測量系統

更新時間：2025-03-05

簡要描述：CME-PL光致發光量子效率測量系統是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出。該產品是一個系統解決方案，包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和計算機。軟件使操作變得簡單。可用于容納液體樣品的薄膜，粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉等領域。

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詳細說明：

光致發光量子效率測量系統 CME-PL

CME-PL光致發光量子效率測量系統是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出。該產品是一個系統解決方案，包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和計算機。軟件使操作變得簡單。可用于容納液體樣品的薄膜，粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉等領域。

主要特點:

l適用于粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率；

l光譜儀系統采用制冷型CCD信噪比高、雜散光低；

l激發光源采用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長；

l體積小巧：便于靈活使用及運輸；

l堅固、緊湊的設計，可以***限度減少實驗室空間；

l專業軟件，操作簡單；

l光致發光量子效率、熒光材料發光發光測量（量子效率X吸收）、量子效率和激發波長的關系（-02G，-03G）、光致發光譜（峰值波長，FWHM）、光致發光激發譜（-02G,-03G）、色彩測定（色度、色溫、顯色指數等）。

技術參數

單色可調光源	型號	CME-TLSX300F
	功率	300W
	光譜范圍	300-1100nm
	焦距	150mm
	分辨率	0.3nm
	帶寬	0.3-22nm
光譜儀	型號	CME-QE2000（可選）
	光譜范圍（nm）	300-1100nm
	光譜儀分光元件	全息成像光柵
	感光元件	電子冷卻型CCD影像感測器
	信噪比	1000:01:00
	分辨率	2.5nm(FWHM)
積分球	尺寸	100mm
積分球	涂層材質	Sperctralon
光纖	芯徑	800um

光致發光量子效率測量系統 CME-PL

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